咨詢電話
15766191432
products
產品分類
更新時間：2025-10-13 
瀏覽次數：29在現代高的端制造業的隱秘戰場上，一場關乎品質、效率與未來的戰役無的時的無的刻不在進行——這就是“干燥"之戰。微量的水分，看似無足輕重，卻足以成為鋰電池爆炸的誘因、芯片性能的殺手。在這場沒有硝煙的戰爭中，測量與控制是決勝的關鍵，而日本TEKHNE的露點儀，正是這場戰役中不的可的或的缺的“高精度哨兵"與“戰術指揮官"。
在普通環境中，水分無處不在，但在鋰電池和半導體制造的微觀世界里，它卻是一種極的具破壞性的污染物。
在鋰電池制造中：
安全性威脅：電解液中的鋰鹽（如六氟磷酸鋰）與微量水分會發生劇烈反應，生成腐蝕性極的強的氫氟酸。HF會腐蝕電極材料、集流體，導致電池容量衰減、內阻增加，更危險的是，副反應會產生氣體，引起電池鼓包，甚至在充放電過程中引發熱失控，導致起火爆炸。
性能殺手：水分會消耗寶貴的鋰源，在負極表面發生副反應，形成不穩定的SEI膜，嚴重影響電池的首的次庫倫效率、循環壽命和倍率性能。一顆水分超標的電芯，注定是“短命"且“體弱"的。
在半導體制造中：
氧化缺陷：在高溫工藝（如擴散、氧化、CVD）中，水分會與硅片表面反應，形成不希望出現的二氧化硅層，改變器件的電學特性，導致漏電流增加、閾值電壓漂移。
成品率災難：在光刻環節，水汽會導致光刻膠粘附性變差，形成圖形缺陷；在金屬沉積環節，水分會造成金屬線腐蝕、空洞，直接造成芯片短路或開路。一顆納米級的塵埃或一個水分子團，都可能讓價值不菲的晶圓淪為廢品。
氣體純度破壞者：半導體工藝使用大量的高純度特種氣體（如氦氣、氬氣、氮氣、硅烷等）。硅烷遇水會劇烈反應生成二氧化硅和氫氣，不僅污染氣體管路，更存在爆炸風險。
因此，對露點的精確監控，不再是簡單的環境參數檢測，而是直接關聯到產品安全、性能、成品率與企業核心利益的生命線。
面對如此嚴苛的測量需求，普通的濕度傳感器無能為力。日本TEKHNE憑借其核心傳感技術，為這兩個行業提供了可靠的解決方案。
1. 高分子薄膜電容式傳感器：全能主力的精準打擊
這是TEKHNE在中低露點范圍（通常在-80°C至+20°C）應用的主力技術。
工作原理：其核心是一個對水分子極其敏感的高分子聚合物薄膜。當環境中的水分子被薄膜吸附時，會改變其介電常數，從而引起電容值的精確變化。通過測量電容，即可換算出對應的露點溫度。
行業應用優勢：
高精度與快速響應：能迅速捕捉到干燥設備（如手套箱、干燥房）內水分的微小波動，為實時控制提供數據支持，非常適合鋰電池電極涂布后、注液前等環節的環境監測。
抗干擾與長壽命：傳感器設計能耐受一定程度的化學污染，在復雜的工業氣體環境中保持穩定，適用于半導體廠務端的大宗氣體（GN2、CDA）純度監測。
2. 石英晶體微天平傳感器：極限干燥的終的極裁決
對于半導體前端工藝和鋰電池一些超高純度氣體環境，露點要求低至-100°C以下，此時QCM技術是無的可的替的代的“黃金標準"。
工作原理：在石英晶體振蕩器表面涂覆超薄吸濕層。水分子吸附其上會導致晶體質量增加，共振頻率下降。頻率的變化量與吸附的水分子質量嚴格成正比，從而實現無的與的倫的比的精確測量。
行業應用優勢：
極限精度：在-110°C甚至更低的露點范圍內，依然能保持極的高的準確度和分辨率。這是監測超高純電子特氣（如蝕刻氣、CVD源）純度的不的二的之的選。
絕對測量：其原理是直接測量質量，近乎于一個“水分子天平"，受其他氣體成分影響極小，數據極的具的權的威性。
在鋰電池制造的數十道工序中，TEKHNE露點儀在以下幾個關鍵節點構筑了堅實的防線。
1. 電極制造與環境控制：
涂布后干燥房/箱：正負極漿料涂布后，需要進入嚴格的干燥環境去除溶劑。TEKHNE露點儀持續監控環境露點（通常要求<-40°C），防止極片在干燥過程中吸潮，確保電極活性物質的結構穩定。
2. 電芯組裝與注液環節：
手套箱：這是注液前的最后一道防線。電芯在轉移至手套箱后，箱內必須維持極的高的干燥度（露點通常要求<-50°C至<-60°C，甚至更低）。TEKHNE的快速響應露點儀如同“哨兵"，實時反饋箱內水分含量，確保在注液前，電芯內部是一個“超干"的潔凈環境，從根本上杜絕了電解液與水分接觸的風險。
3. 關鍵工藝氣體監測：
保護氣體干燥度監測：在電池烘烤、儲存等過程中，使用的氮氣或氬氣保護氣的純度至關重要。TEKHNE露點儀被安裝在氣源或用氣點，連續監測氣體露點，確保通入的是“合格"的干燥氣體，防止電芯在熱態下二次吸潮。
通過在這些節點的精準布控，TEKHNE幫助電池制造商顯著提升了電池的一致性、安全性和循環壽命，降低了因水分控制不當導致的批次性報廢風險。
半導體工廠可能是地球上對“干燥"要求最嚴苛的地方，TEKHNE在此扮演著“純度衛士"的角色。
1. 廠務支持系統——大環境的“定海神針"：
大宗氣體系統：整個Fab廠依賴巨量的高純氮氣、壓縮干燥空氣和工藝真空。TEKHNE露點儀被戰略性地部署在氣體生產裝置出口、純化器后以及各個分輸點，構成一個完整的監測網絡。一旦某處露點異常升高，系統會立即報警，指引維護人員迅速定位并排除故障，防止污染通過氣源擴散至全廠。
2. 工藝設備端點——微觀世界的“前沿哨所"：
擴散/LPCVD爐管：在這些高溫設備的氣路中，TEKHNE的QCM傳感器能夠精確監測進入反應腔室的工藝氣體露點，確保其達到-80°C以下的超高純度，防止水氧雜質參與反應，生成低質量的氧化層或薄膜。
光刻機：光刻機內部環境需要精確的溫度和濕度控制。TEKHNE露點儀協助維持穩定的環境，防止透鏡結霧和光刻膠性能變化，保障納米級圖形的精準轉印。
電子特氣輸送系統：對于劇毒、易燃的硅烷、磷烷等特種氣體，管線的泄漏是致命的。通過監測吹掃用氮氣的露點，可以間接判斷閥件、接頭的氣密性。同時，直接監測特氣本身的露點，是驗證氣體供應商產品質量和確保工藝安全的最后關卡。
3. 新趨勢的賦能者：
第三代半導體：碳化硅、氮化鎵等寬禁帶半導體的制造，對高溫、高功率工藝的要求更高，對工藝環境中雜質（包括水分）的控制也更為苛刻。TEKHNE的極限測量能力為此提供了技術保障。
預測性維護：通過持續收集露點數據，結合AI算法，可以預測氣體純化器吸附劑的壽命、閥門的老化趨勢，實現從“事后維修"到“預測性維護"的跨越，極大提升了半導體制造的連續性和可靠性。
在鋰電池與半導體這場邁向更高能量密度、更小制程節點的競賽中，“干燥"是實現技術突破的基石。日本TEKHNE露點儀/水分計，憑借其深厚的技術底蘊、卓的越的產品性能和對工業應用的深刻理解，已深度融入這兩個高的端制造業的核心流程。
您的位置：
在線咨詢
返回頂部