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更新時(shí)間：2023-12-06 
瀏覽次數(shù)：515AE-162E 用于超高速芯片電阻測(cè)試
非常適合 D、F、G、J、K 級(jí)、片式、MELF、
徑向和軸向電阻器的分選機(jī)和編帶機(jī)。
兼容極小芯片（低功耗測(cè)量）
超高速0.7msec.（典型值）
熱電動(dòng)勢(shì)抵消測(cè)量帶來(lái)高精度和穩(wěn)定性
通過(guò)每個(gè)量程的測(cè)量值積分時(shí)間設(shè)置功能，實(shí)現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測(cè)量。
%測(cè)量：±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]
絕對(duì)測(cè)量：0.00mΩ~200.00MΩ
接觸檢查：測(cè)量前/測(cè)量后/關(guān)閉可選
RS-232C接口標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（GP-IB可選）
打印機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（Centronics兼容）
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置值傳輸功能：（相同的設(shè)置數(shù)據(jù)可以傳輸?shù)搅硪慌_(tái)AE-162E以進(jìn)行自動(dòng)設(shè)置。）
標(biāo)準(zhǔn)配備測(cè)量電流/測(cè)量電壓異常檢查電路
兼容極小芯片（低功耗測(cè)量）
超高速0.7msec.（典型值）
熱電動(dòng)勢(shì)抵消測(cè)量帶來(lái)高精度和穩(wěn)定性
通過(guò)每個(gè)量程的測(cè)量值積分時(shí)間設(shè)置功能，實(shí)現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測(cè)量。
%測(cè)量：±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]
絕對(duì)測(cè)量：0.00mΩ~200.00MΩ
接觸檢查：測(cè)量前/測(cè)量后/關(guān)閉可選
RS-232C接口標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（GP-IB可選）
打印機(jī)輸出標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備（Centronics兼容）
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置值傳輸功能：（相同的設(shè)置數(shù)據(jù)可以傳輸?shù)搅硪慌_(tái)AE-162E以進(jìn)行自動(dòng)設(shè)置。）
標(biāo)準(zhǔn)配備測(cè)量電流/測(cè)量電壓異常檢查電路
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